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靜態二次離子質譜（TOF-SIMS）

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二維/三維化學組成分布

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動態二次離子質譜儀（D-SIMS）

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表征技術：飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）

飛行時間二次離子質譜（ TOF-SIMS ）是一種結合二次離子質譜與飛行時間質量分析器的表面表征技術。該技術由 Beninghoven 教授團隊于 20 世紀 80 年代初首次研制，后經多次迭代升級，在分析性能、數據處理效率及軟件操作性方面均取得顯著提升。如今， TOF-SIMS 已成為成熟且應...

2025-09-15

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二次離子質譜SIMS：原理與基本概念

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2024-12-03

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二次離子質譜SIMS兩種模式的應用特點

二次離子質譜 SIMS 兩種模式的應用特點二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS ）是一種高靈敏度、高分辨率的表面分析技術，廣泛應用于材料科學、地球化學、半導體工業、生物學等多個領域。 SIMS 有兩種主要的工作模式：靜態 SIMS （ Sta...

2024-11-27

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二次離子質譜(SIMS)技術詳解：分析與應用

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2024-09-29

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二次離子質譜大科普！TOF-SIMS實例分析

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2024-01-19

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動態二次離子質譜儀（D-SIMS）在材料分析中的用途

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2023-12-14

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動態二次離子質譜技術(D-SIMS)改變表面分析的局限性

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2023-12-14

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表面分析利器——TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀

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2023-12-11

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