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聚焦離子束FIB在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實(shí)踐

聚焦離子束 FIB 在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實(shí)踐聚焦離子束技術(shù)（ Focused Ion Beam, FIB ）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色，它利用高能離子束精確地對(duì)材料進(jìn)行微納尺度的加工、分析和修改； FIB 技術(shù)的出現(xiàn)極大地推動(dòng)了納米科技的發(fā)展，尤其是在樣品制備、微納結(jié)構(gòu)加工、故障分析...

2024-12-25

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FIB無(wú)敵折扣，盡享省心測(cè)試之旅，快來(lái)下單吧！

2024-11-14

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聚焦離子束FIB的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)探討

聚焦離子束 FIB 的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)探討聚焦離子束（ Focused Ion Beam, FIB ）技術(shù)是一種高精度微加工和微分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。一、優(yōu)勢(shì) 1. 高精度加工： FIB 技術(shù) 能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)的加工精度，遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的光刻技術(shù) ；它可以用于...

2024-09-05

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FIB聚焦離子束技術(shù)在檢測(cè)樣品時(shí)樣品的制備流程解析

FIB 聚焦離子束技術(shù)在檢測(cè)樣品時(shí)樣品的制備流程解析聚焦離子束 FIB 技術(shù)是一種基于離子光學(xué)原理的微納米加工技術(shù)，其具有高精度、高效率、實(shí)時(shí)性好等優(yōu)點(diǎn)。 FIB 技術(shù)在我國(guó)科研、工業(yè)等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，尤其在樣品制備方面， FIB 技術(shù)具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。本文將詳細(xì)介紹 FIB 技術(shù)在樣品制備...

2023-12-18

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聚焦離子束（FIB）助力新型材料研究與開(kāi)發(fā)

聚焦離子束（ FIB ）助力新型材料研究與開(kāi)發(fā) 聚焦離子束（ FIB ）技術(shù)是一種利用靜電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的微切割技術(shù) ，其原理是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)聚焦，形成具有高能量、高束流密度的離子束，通過(guò)控制離子束的掃描路徑，可以在材料表面進(jìn)行納米級(jí)的切割、刻蝕和修飾等操作； FIB...

2023-12-05

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象！

為充分理解材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”三要素之間的關(guān)系，科學(xué)界發(fā)展了許多成像和組分分析技術(shù)，SEM和TEM就是表征這方面的常用儀器。SEM能夠?qū)Σ牧媳砻娴慕Y(jié)構(gòu)形貌和成分組成進(jìn)行分析，但是無(wú)法獲取材料內(nèi)部信息；TEM雖然能夠?qū)Ψ从吵鰳悠穬?nèi)部及表面信息的薄膜樣品進(jìn)行形貌、成分和結(jié)構(gòu)分析，但是前提是要制備...

2023-11-23

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關(guān)于聚焦離子束（FIB）的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

關(guān)于聚焦離子束（ FIB ）的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢(shì) 聚焦離子束（ FIB ， Focused Ion Beam ）是一種先進(jìn)的納米級(jí)加工和分析技術(shù)，它結(jié)合了離子束技術(shù)和掃描電子顯微鏡（ SEM ）技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)。一、基本原理聚焦離子束顯微鏡系統(tǒng)由液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生離子束...

2023-11-21

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FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)

FIB-SEM 電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì) 掃描電子顯微鏡（ SEM ）是一種廣泛應(yīng)用于材料表面形貌、形變及組成分析的設(shè)備。然而，在處理一些復(fù)雜、不規(guī)則的樣品以及需要進(jìn)行精細(xì)切割、觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的樣品時(shí)，傳統(tǒng)的 SEM 存在局限性。為了克服這些限制，聚焦離子束 - 掃描電子顯微鏡（ FIB-...

2023-10-08

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